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          SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

          SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

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          售后聯系信息:
          021-62956600
          產品介紹

          SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

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          測量參數

          • 量子效率
          • 亮度
          • 量子效率隨電流密度的曲線
          • 色坐標
          • 輻射通量,光通量
          • 主波長

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          應用領域

          • 無機電致發光
          • 有機電致發光
          • 分子薄膜EL器件

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          產品優勢

          • 體積小巧:便于靈活使用及運輸。
          • 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
          • 流程化操作:設備無需頻繁校準。

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          產品參數

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          系統配置
          配置方案 方案1?方案2
          光譜儀型號QEPro / QE65Pro(可選)
          光譜范圍(nm)350-1100
          信噪比1000:01:00
          分辨率2.5 nm (FWHM)
          動態范圍85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)
          AD位數18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
          積分球尺寸3.3”1.5”
          材質Spectralon
          源表Keithley2400
          光纖芯徑1000um(可更換其他芯徑)
          校準燈角度2 Pi?型號HL-3-INT-CAL
          亮度50 流明功率5W(電功率)
          無線遙控 通道數4無遙控
          軟件SpectrumTEQ-EL專用軟件

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          性能參數:

          測試范圍(依配置決定)亮度0.01-2*10 nit6
          通量5*10-6-300 lm
          輻射亮度0.02-2*106mW/Sr/m2
          輻射通量1*10-5-650mW
          亮度重復性>98%
          主波長重復性0.5 nm
          光致量子效率測試結果重復性5%
          電致量子效率測試結果重復性2%

          注:以上測試樣品為標準朗伯體測試結果。

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